摘要：磁力顯微鏡(magnetic force microscope,MFM)因測量不破壞樣品、樣品無需特別制備、以及納米尺度的分辨率(10~50 nm)等優勢,而廣泛應用于各種磁性材料中磁疇結構的研究,尤其成為磁記錄工業中研究磁介質和磁頭的磁疇結構或磁場分布的有力工具.但是,標準MFM圖像實際上是磁場力的二階梯度圖,而如何定量分析MFM圖像、得到樣品內部的磁矩分布信息,是近年來MFM研究領域迫切需要解決的問題,也是當前研究的熱點.本文通過構筑精確的MFM成像理論發展一種磁力顯微鏡量化分析方法,為磁信息存儲工業等重要領域關鍵技術的發展提供新型有力的工具.本文的關鍵在于構建MFM針尖的三維格林函數,通過格林函數方法解卷積MFM圖像,獲取樣品中的有效磁荷結構.其次,建立和實際樣品相符的微磁學模型,以有效磁荷驅動磁疇、疇壁的運動,構筑樣品內部真實的磁疇結構,由此完成對MFM圖像的量化解釋.