摘要：針對微型磁瓦圖像對比度低、紋理背景復雜、亮度不均勻、缺陷區域小等特點,本文提出了一種微型磁瓦表面線缺陷視覺檢測方法。首先,構造自適應靜態掩膜,屏蔽微型磁瓦輪廓;其次,采用非線性各向異性擴散方程,抑制微型磁瓦表面紋理;進而,構造動態掩膜自下而上掃描磁瓦圖像,提取線缺陷區域;最后,在開發的微型磁瓦視覺檢測實驗裝置上,進行了大量的實驗研究。實驗結果表明,本文缺陷提取算法能夠較準確提取出磁瓦表面圖像的線缺陷,表面缺陷檢測的準確率為94.6%。