摘要：研究方向是最終用于激光背面測試的 CMOS 圖像芯片 PLCC 封裝方法,通過采用 DOE 實驗優化的方法,以封裝工藝中鍵合的實際鍵合效率為依據,得出了關于封裝中底部壓塊設計的最優方案,以確保 CMOS 圖像芯片封裝可以穩定高效地完成。
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