摘要：針對當(dāng)前射頻芯片性能不斷增強(qiáng)和應(yīng)用日益廣泛的現(xiàn)狀,同時為了滿足5G射頻芯片測試需求,結(jié)合當(dāng)前國際先進(jìn)芯片自動測試技術(shù),重點對國產(chǎn)芯片自動測試系統(tǒng)射頻測試模塊開展設(shè)計;通過對當(dāng)前市場常用射頻芯片以及5G射頻芯片測試需求研究,通過采用小型化設(shè)計優(yōu)化矢量信號收發(fā)模塊的性能;為解決測試頻率不斷升高帶來的問題,設(shè)計中采用模塊化變頻設(shè)計來拓展芯片測試頻率范圍;同時設(shè)計4個射頻信號通道,每個通道具有4個射頻端口,最大能夠?qū)?6個被測件進(jìn)行測試,顯著提高芯片測試效率;該系統(tǒng)能夠完成50M~12GHz矢量信號發(fā)射和分析,同時具有噪聲系數(shù)測試,S參數(shù)測量,雙音信號生成等功能。