摘要：傳統的控制圖多數是在已知過程分布的假設下構建的,這種控制圖被稱為參數控制圖.然而,在實際應用中,大多數過程因為其數據的復雜性導致他們的精確分布往往難以確定.當預先指定的參數分布無效時,參數控制圖的結果將不再可靠.為了解決這個問題,通?？紤]非參數控制圖,因為非參數控制圖比參數控制圖更加穩健.近年來對非參數控制圖的研究越來越多,但大多數現有的控制圖主要是用于檢測位置參數的變化.本文提出一個新的非參數Shewhart控制圖(稱為LOG圖),可用來檢測未知連續過程分布的尺度參數.文中依據運行長度分布的均值,方差和分位數,分析了LOG圖在過程受控和失控時的性能表現,并與其他非參數控制圖進行比較.模擬結果表明,LOG圖在不同過程分布下對檢測尺度參數的漂移都具有很好的性能.最后用一個實例來說明LOG圖在實際中的應用.